半導体検査関連製品

テスト用プローブピン、テスト用ソケット、その他接触部材及びプローブピン、クリーニング関連製品を取り扱っています

	半導体検査用プローブピン
	電気的接触抵抗を極力小さく抑え、安定した接触性が得られた耐久性に優れたプローブピンです。半導体検査用途として、0.40～1.27mmピッチに対応したコンタクトです。

	半導体検査用ソケット
	プローブ・コンタクト・板バネコンタクトを使用したテスト用ソケットが製作可能です。切削加工ソケット（少量生産適合品）から、簡易金型を使用した成型品ソケット、あらゆる半導体PKG形状に対し対応可能です。

	その他接触部材
	PET・液晶ポリマーで作成された糸を編みこんだメッシュの上にメッキ広報で形成されたパターン及びバンプで低接触圧力の安定した、接触が得られるコンタクトシートです。

	クリーニング関連
	コンタクトピン接触部の汚れ及びソケット内のレジン屑などを半導電の微粘着シートでクリーニングするシートです。